超薄Cu薄膜的尺寸效应与电导率
材料科学
2007-05-23 v1
摘要
我们提出了一个用于描述大尺度薄膜厚度范围内金属薄膜输运性质的模型。该模型基于在弛豫时间近似下求解线性化玻尔兹曼方程，并使用密度泛函理论框架内的{\it ab initio}计算。弛豫时间的表达式源自对散射过程的微观处理，并为极薄和极厚薄膜提供了正确的厚度依赖性。该方法应用于计算厚度在1至32个单层之间的薄Cu(001)薄膜的面内电导率和Drude型等离子体频率。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0406111,
title = {Size effects and conductivity of ultrathin Cu films},
author = {Dmitry V. Fedorov Peter Zahn Ingrid Mertig},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0406111},
year = {2007}
}
备注
5 pages, 4 figures, subm. to Thin Solid Films