高温电阻率：饱和现象及其缺失

许多过渡金属化合物在高温下表现出电阻率的饱和现象，而钠掺杂全erennes 和高Tc氧化物铜系材料通常被认为不存在饱和。我们构建了两种模型：一种描述过渡金属化合物的饱和行为，另一种描述钠掺杂全erennes 的无饱和现象。为分析结果，我们采用f-求和规则，推导出在大温度下电阻率的近似上限。对于某些体系在低温下，电阻率增长迅速，以至于在实验温度下就接近该上限，随后电阻率才发生饱和。在电子弱相互作用的过渡金属化合物模型中，该上限对应的平均自由程符合Ioffe-Regel条件。然而，在电子强相互作用的高Tc铜系材料模型中，该上限远大于Ioffe-Regel条件所暗示的水平。由于该上限未被实验数据所超越，数据与铜系材料的饱和现象相符。在“饱和”之后，电阻率通常以较慢的速度增长。对于钠掺杂全erennes 而言，由于取向无序，已可认为在T=0 时就实现了“饱和”。然而，这些体系在“饱和”之后电阻率增长极快，以至于此概念失去意义。这源于小能带宽度以及与重要声子能级的耦合。