磷掺杂硅中自由感应衰减和哈恩回波的电学检测
材料科学
2015-05-27 v1
摘要
固态环境中的顺磁中心通常会导致不均匀展宽的电子顺磁共振（EPR）谱线，使得常规检测的自由感应衰减（FID）信号在光谱仪死时间内消失。这里，我们展示了在具有天然同位素组成的硅外延层中磷施主的电学检测FID的实验结果，显示了前150纳秒内的拉姆齐条纹。我们开发了一个解析模型来解释所获得的数据以及类似的双脉冲回波实验的结果。进一步给出了数值计算的结果，以评估该方法研究自旋-自旋相互作用的能力。
引用
@article{arxiv.1102.1550,
title = {Electrical detection of free induction decay and Hahn echoes in phosphorus doped silicon},
author = {Jinming Lu and Felix Hoehne and Andre R. Stegner and Lukas Dreher and Hans Huebl and Martin Stutzmann and Martin S. Brandt},
journal= {arXiv preprint arXiv:1102.1550},
year = {2015}
}
备注
9 pages, 9 figures