PbZr0.4Ti0.6O3电容器的电学表征
材料科学
2007-05-23 v1
摘要
我们对具有Pt底电极和Ir/IrO2顶电极的全集成商用PbZr0.4Ti0.6O3薄膜电容器进行了仔细的电流-电压（I-V）特性研究。在不同温度下，从电流-时间数据中获得了高度可重复的稳态I-V特性，电压范围跨越两个数量级，并使用几种常见的输运模型进行分析，包括空间电荷限制导电、全耗尽和部分耗尽下的肖特基热电子发射以及普尔-弗兰克尔导电，结果表明后者是这些高质量薄膜中最可能的漏电机制。此外，在大温度范围内获得了铁电滞回线和电容-电压数据，并使用考虑空间电荷效应的修正朗道-金兹堡-德文希尔理论进行了讨论。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0607585,
title = {Electrical Characterization of PbZr0.4Ti0.6O3 Capacitors},
author = {P. Zubko and D. J. Jung and J. F. Scott},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0607585},
year = {2007}
}
备注
17 pages, 7 figures