双重复制、Kerr-Schild 规范与有效单体形式

我们通过将两个点质量与两个点电荷的散射描述联系起来（以微扰（后 Minkowskian 或后 Lorentzian）展开的形式），寻找引力与电动力学之间的经典双重复制结构。为此，我们在两种情况下均使用 Kerr-Schild 规范，对有效单体形式内现有的解析信息进行了重新表述。在第三微扰阶上工作，我们发现存在于探测极限中的无量纲电势 $\tilde{\phi}= \frac{G M}{e_1 e_2} \phi^{\rm el}$ 与类 Schwarzschild 引力势 $\Phi^{\rm grav}$ 之间的通常线性关系，在质量可比、电荷可比的情况下，形变为一种非线性关系，并在高能极限下变得普适：$\Phi^{\rm grav}= 2\tilde{\phi}-5\tilde{\phi}^2 + 18\tilde{\phi}^3$。