静电力显微镜观察绝缘层表面的色散电荷输运
凝聚态物理
2007-05-23 v1
摘要
我们报道了在实空间中观察数千个电荷在可调电场作用下沿氧化硅层表面的输运。电荷的沉积和观察均使用同一台静电力显微镜完成。在我们测量可及的时间范围内（即），电子的输运由氧化物中的陷阱介导。我们测量了氧化硅层“表面”态中电子的迁移率，并展示了其运动的色散性质。同时证明，深层氧化物陷阱的饱和显著增强了横向电场下电子的输运。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0312471,
title = {Dispersive charge transport along the surface of an insulating layer observed by Electrostatic Force Microscopy},
author = {J. S. Lambert and G. De Loubens and C. Guthmann and M. Saint-Jean and T. Melin},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0312471},
year = {2007}
}
备注
submitted to EPL