强关联电子液体中的无序与两种输运寿命
介观与纳米尺度物理
2017-09-06 v1 强关联电子
摘要
我们报告了SmTiO3/SrTiO3/SmTiO3量子阱结构中电子液体的薄层电阻和霍尔系数的角度依赖性测量结果，该结构是通过分子束外延在(001) DyScO3上生长的。我们将其输运性质与在LSAT [(La0.3Sr0.7)(Al0.65Ta0.35)O3]上生长的类似结构进行了比较。在DyScO3上，垂直于量子阱的平面缺陷导致输运性质中存在强烈的面内各向异性。这使得能够量化缺陷在输运中的作用。特别地，我们研究了纵向和霍尔散射率之间的差异，这是一种被称为寿命分离的非费米液体现象。发现纵向电阻和霍尔角的残差均取决于输运方向相对于平面缺陷的取向。霍尔角在所有方向上均表现出稳健的T2温度依赖性，而没有任何简单的幂律能够描述纵向电阻的温度依赖性。值得注意的是，载流子寿命分离的程度——表现为明显不同的温度依赖性和在临界量子阱厚度附近发散的残差——对无序完全不敏感。这些结果使得能够明确区分无序引起的输运贡献与内在的非费米液体现象（包括寿命分离）。
引用
@article{arxiv.1708.06454,
title = {Disorder versus two transport lifetimes in a strongly correlated electron liquid},
author = {Patrick B. Marshall and Honggyu Kim and Susanne Stemmer},
journal= {arXiv preprint arXiv:1708.06454},
year = {2017}
}
备注
In press, Sci. Rep