利用散粒噪声直接确定扩散介观样品中的电子-电子平均自由程
介观与纳米尺度物理
2009-10-31 v2 强关联电子
摘要
利用“漂移-扩散-Langevin”方程，我们最近表明，扩散介观导体中的有限频率散粒噪声对样品长度与电子-电子平均自由程之比非常敏感。在这项工作中，我们给出了任意值下噪声的数值计算。如果与精确的噪声测量相结合，这里给出的结果可以作为确定给定样品中的一种新的独立方法。
引用
@article{arxiv.cond-mat/9806340,
title = {Direct determination of the electron-electron mean free path in diffusive mesoscopic samples using shot noise},
author = {Y. Naveh},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/9806340},
year = {2009}
}
备注
4 pages, published version