暗场成像作为微盘腔中回音壁模式表征的非侵入式方法
光学
2016-04-20 v1
摘要
采用暗场成像与可见光谱范围内的光谱学研究了通过直接激光写入制备的回音壁模式微盘腔。暗场成像使我们能够直接可视化回音壁模式的空间强度分布。我们从暗场图像中提取其方位角和径向模式指数，并从色散关系求出轴向模式数。在共焦布置下获得的散射光谱提供了关于谐振腔中光学态密度的信息。所提出的技术是一种表征微盘腔光学性质的简单非侵入式方法。
引用
@article{arxiv.1601.02026,
title = {Dark-field imaging as a non-invasive method for characterization of whispering gallery modes in microdisk cavities},
author = {D. A. Baranov and K. B. Samusev and I. I. Shishkin and A. K. Samusev and P. A. Belov and A. A. Bogdanov},
journal= {arXiv preprint arXiv:1601.02026},
year = {2016}
}
备注
5 pages, 4 figures