为 DARWIN 开发的阻塞杂质带 Si:As 探测器的低温性能测试
仪器与探测器
2009-11-13 v1
摘要
我们报告了由 IMEC 开发的 Si:As 阻塞杂质带 (BIB) 中红外 (4 至 28 um) 探测器的实验室测试初步结果。这些原型具有混合在集成低温读出电子学 (CRE) 上的 88 个像素。它们是作为未来 DARWIN 任务的技术演示计划的一部分而开发的。为了能够分离探测器和读出效应，使用了定制构建的 TIA 电路来表征额外的单像素探测器。我们在 MPIA 使用新设计的测试装置来确定相对光谱响应、量子效率和暗电流。所有这些属性均作为工作温度和探测器偏压的函数进行了测量。此外，还研究了电离辐射对探测器的影响。为了确定相对光谱响应，我们使用了双光栅单色仪和一个已知响应的测辐射热计，其与 Si:As 探测器并行运行。量子效率是通过使用定制构建的高精度真空黑体以及已知（已测量）透射率的低温 (T ~ 4 K) 滤光片进行测量的。
引用
@article{arxiv.0807.1410,
title = {Cold performance tests of blocked-impurity-band Si:As detectors developed for DARWIN},
author = {Stephan M. Birkmann and Jutta Stegmaier and Ulrich Groezinger and Oliver Krause and Tim Souverijns and Jan Putzeys and Deniz Sabuncuoglu Tezcan and Koen De Munck and Paolo Fiorini and Kiki Minoglou and Patrick Merken and Chris Van Hoof and Piet De Moor},
journal= {arXiv preprint arXiv:0807.1410},
year = {2009}
}
备注
11 pages, 8 figures, to appear in "High Energy, Optical, and Infrared Detectors for Astronomy" SPIE conference Proc. 7021, Marseille, 23-28 June 2008