高阻颗粒金属薄膜的充电

我们使用扫描开尔文探针显微镜技术监测高阻颗粒薄膜的充电过程。样品连接两个引线，并通过绝缘层与栅电极隔开。当施加栅电压时，电荷从引线进入并在样品中重新分布。我们发现特征充电时间呈宽范围指数分布的非常缓慢的过程，导致对数弛豫至平衡。栅电压关闭后，系统再次对数缓慢弛豫至新平衡。结果无法用扩散模型解释，但大部分可用跳跃渗流模型理解，其中定域长度小于典型位点间距。该技术在研究高阻系统中的慢现象非常有前景，并且当直接宏观测量技术不够灵敏时能够估算这些系统的电导。