绝缘颗粒铝中的慢电导弛豫：屏蔽效应的证据
无序系统与神经网络
2011-06-17 v1
摘要
研究表明，在颗粒铝薄膜的电场效应测量中观察到的电导弛豫是两个贡献之和。一个对栅压变化敏感，并给出已报道的反常电场效应。另一个与栅压历史无关，并在薄膜冷却至低温时开始。它们的相对幅度强烈依赖于厚度，这证明了在我们的绝缘薄膜中存在有限的屏蔽长度，并允许对其进行定量估计（在4K时约为10nm）。这种类金属屏蔽应在无序绝缘体的电子玻璃模型中予以考虑。
引用
@article{arxiv.1106.3155,
title = {Slow Conductance Relaxation in Insulating Granular Al: Evidence for Screening Effects},
author = {Julien Delahaye and Jean Honoré and Thierry Grenet},
journal= {arXiv preprint arXiv:1106.3155},
year = {2011}
}