扫描探针微波显微镜测量超导薄膜纳米尺度线性响应的建模
超导电性
2014-06-06 v1
摘要
利用磁写入头产生的局域强射频磁场，检查 Nb 超导薄膜的线性电动力学性质。测量了靠近薄膜放置的写入头的复反射系数随样品温度的变化关系。提出了一种结合磁路（与样品电感耦合的磁写入头）和传输线（微波电路）的模型，以解释线性响应测量结果。此外，这种反射线性响应测量可用于确定各种超导体的磁穿透深度随温度的依赖性。
引用
@article{arxiv.1402.1927,
title = {Modeling the nanoscale linear response of superconducting thin films measured by a scanning probe microwave microscope},
author = {Tamin Tai and B. G. Ghamsari and Steven M. Anlage},
journal= {arXiv preprint arXiv:1402.1927},
year = {2014}
}