Charge fluctuation induced dephasing of exchange coupled spin qubits
介观与纳米尺度物理
2009-11-11 v2 量子物理
摘要
在半导体纳米结构中，耦合的自旋量子比特显示出对由不可避免存在于半导体环境中的 charge noise 引起的退相干的脆弱性。这种由环境 charge 波动引起的 exchange gate 退相干源于海森堡耦合的基本库仑性质，给广泛研究的 exchange gate 固态自旋量子计算机体系结构的可扩展性带来了严重挑战。我们估算了耦合自旋量子比特的退相干时间，范围广泛（从 1 ns 到 > 1us），取决于 exchange 耦合强度及其对 charge 波动的灵敏度。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0507725,
title = {Charge fluctuation induced dephasing of exchange coupled spin qubits},
author = {Xuedong Hu and S. Das Sarma},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0507725},
year = {2009}
}
备注
4 pages, 3 figures