通过 XPS 和 DFT 研究表征倒置有机光伏中溶液处理的 TiOx 缓冲层
材料科学
2014-11-07 v1
摘要
我们展示了溶液处理的 TiOx 薄膜的 XPS 测量结果（核心能级和价带），该薄膜由稀释在异丙醇中的钛酸丁酯 (C16H36O4Ti) 制备而成，这是制造用于 ITO/TiOx 倒置有机光伏底电极的 TiOx 电子选择接触层的常见溶胶 - 凝胶路线。XPS Ti 2p 和价带谱显示了额外特征的存在，这些特征在沉积于 Si 上的钛酸丁酯谱图中 absent，归因于 ITO/TiOx 中 Ti^{3+} 价态的出现。这一结论得到了化学计量比 TiO2 和缺氧 TiO_{2-1/8} 的密度泛函理论电子结构计算的证实。XPS C 1s 测量显示了 C-O 和 O-C=O 键的形成，证明了残留碳的存在，这些碳可能从薄膜网络中抽取氧并诱导 TiOx 薄膜中部分 Ti3+ 态的形成。
引用
@article{arxiv.1411.1561,
title = {Characterization of solution processed TiOx buffer layers in inverted organic photovoltaics by XPS and DFT studies},
author = {Ivan S. Zhidkov and Ernst Z. Kurmaev and Michel A. Korotin and Andrey I. Kukharenko and Achilleas Savva and Stelios A. Choulis and Danila M. Korotin and Seif O. Cholakh},
journal= {arXiv preprint arXiv:1411.1561},
year = {2014}
}