基于理论与实验研究聚碳酸酯 | X 界面（X = Al$_2$O$_3$、TiO$_2$、TiAlO$_2$）的键形成
材料科学
2023-05-30 v1
摘要
通过第一性原理分子动力学模拟与 X 射线光电子能谱（XPS）分析，研究了在聚碳酸酯（PC）上溅射沉积金属氧化物薄膜过程中的界面键形成，对象为 PC | X 界面（X = AlO、TiO、TiAlO）。总体上，预测的键形成与实验数据一致。对于全部三种界面，XPS 鉴别出的大部分键为（C-O）-金属键，而 C-金属键占少数。与 PC | AlO 界面相比，PC | TiO 与 PC | TiAlO 界面的实测界面键密度分别降低了约 75% 与约 65%。将预测的键强乘以相应的实验测定界面键密度表明，AlO 与 PC 的界面最强，而 TiO 与 TiAlO 的界面分别弱约 70% 与约 60%。这可通过考虑金属氧化物组成、键强以及跨界面形成键的种群之间的复杂相互作用来理解。
引用
@article{arxiv.2305.17430,
title = {Bond formation at polycarbonate | X interfaces (X = Al$_2$O$_3$, TiO$_2$, TiAlO$_2$) studied by theory and experiments},
author = {Lena Patterer and Pavel Ondračka and Dimitri Bogdanovski and Stanislav Mráz and Peter J. Pöllmann and Soheil Karimi Aghda and Petr Vašina and Jochen M. Schneider},
journal= {arXiv preprint arXiv:2305.17430},
year = {2023}
}