利用扫描隧道显微镜表征H钝化Si(100)表面上机械剥离的纳米级石墨烯
材料科学
2009-11-13 v2 介观与纳米尺度物理
摘要
我们开发了一种将石墨烯单层和双层沉积到Si(100)-2x1:H表面上的方法，石墨烯的最小横向尺寸为2-10 nm。室温超高真空（UHV）隧道谱测量显示，纳米级单层石墨烯具有依赖于尺寸的能量隙，范围从0.1到1 eV。此外，石墨烯层数可以直接从扫描隧道显微镜（STM）形貌轮廓中确定。这种原子级研究为探测纳米级石墨烯的电子结构提供了实验基础，有助于石墨烯基纳米电子学的发展。
引用
@article{arxiv.0711.0050,
title = {Characterization of nanometer-sized, mechanically exfoliated graphene on the H-passivated Si(100) surface using scanning tunnelling microscopy},
author = {Kyle A. Ritter and Joseph W. Lyding},
journal= {arXiv preprint arXiv:0711.0050},
year = {2009}
}
备注
Accepted for publication in Nanotechnology