二维拓扑绝缘体中边缘态宽度的分岔
介观与纳米尺度物理
2015-06-16 v1 强关联电子
摘要
我们研究了二维拓扑绝缘体中边缘态的性质。基于 Kane-Mele 模型，我们在具有锯齿形边界的半无限蜂窝晶格中，推导出了给定动量下边缘态能量与有效宽度的两个耦合方程。研究发现，在一维布里渊区中，边缘态通过边缘态宽度的分岔合并到体态的连续能带中。我们讨论了这些结果对单层或薄膜拓扑绝缘体实验的意义。
引用
@article{arxiv.1306.4001,
title = {Bifurcation of the Edge-State Width in the Two-Dimensional Topological Insulator},
author = {Hyeonjin Doh and Gun Sang Jeon},
journal= {arXiv preprint arXiv:1306.4001},
year = {2015}
}
备注
5 pages, 5 figures