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自组装量子点中的双激子复合速率

介观与纳米尺度物理 2008-06-17 v1

摘要

量子点中相互作用电子-空穴对的辐射复合速率受到点内电子与空穴之间量子关联的强烈影响。最近对单个自组装量子点中双激子复合速率的测量发现,其值从单激子复合速率的两倍到远低于激子衰变率的值不等。本文发展了一种 Feynman 路径积分表述来计算包含热效应和多体效应的复合速率。利用实空间 Monte Carlo 积分,对 InGaAs/GaAs、CdSe/ZnSe 和 InP/InGaP 量子点的现实三维模型(包括各向异性有效质量)的路径积分表达式进行了计算。根据尺寸的不同,典型量子点的辐射速率处于强限制与中等限制之间的状态。结果与最近在相关量子点系统上的实验和计算结果吻合良好。发现使用无关联基组的组态相互作用计算在计算衰变率时存在严重局限。

关键词

引用

@article{arxiv.cond-mat/0512603,
  title  = {Biexciton recombination rates in self-assembled quantum dots},
  author = {Michael Wimmer and S. V. Nair and J. Shumway},
  journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0512603},
  year   = {2008}
}

备注

11 pages, 4 figures