扫描透射电子显微镜中利用二次电子的原子成像：实验观测与可能机制
材料科学
2010-08-31 v1
摘要
我们报告了在像差校正透射电子显微镜Hitachi HD2700C中，使用亚纳米探针进行二次电子高分辨率成像的详细研究。该仪器还允许我们同时且独立地获取相应的环形暗场图像。我们证明，对于从铀到碳的广泛元素，原子级二次电子成像是可行的。以环形暗场图像为参考，我们研究了二次电子图像强度和衬度随外加偏压、原子序数、晶体倾转和厚度的变化，以揭示二次电子成像中意外超高分辨率的起源。我们还证明了二次电子信号对晶体表面的终止物种敏感。提出了原子尺度二次电子成像的可能机制。在原子尺度上同时成像样品表面和体相的能力是前所未有的，可能彻底改变电子显微镜和成像领域。
引用
@article{arxiv.1008.5139,
title = {Atomic Imaging Using Secondary Electrons in a Scanning Transmission Electron Microscope : Experimental Observations and Possible Mechanisms},
author = {H. Inada and D. Su and R. F. Egerton and M. Konno and L. Wu and J. Ciston and J. Wall and Y. Zhu},
journal= {arXiv preprint arXiv:1008.5139},
year = {2010}
}
备注
20 pages, including 16 figures and 2 tables