利用扫描透射电子显微镜直接成像电子轨道
材料科学
2023-11-01 v1
摘要
近期关于扫描透射电子显微镜中二次电子(SE)发射的研究表明，利用一种称为二次电子电子束诱导电流(SEEBIC)的技术，可以以原子尺度分辨率探测材料的电导率、连通性和功函数等性质。在此，我们将SEEBIC成像技术应用于堆叠的二维异质结构器件，以揭示封装WSe2层的空间分辨电子轨道电离截面。我们发现双Se晶格位点比W位点表现出更高的发射，这与孤立WSe2团簇电离的第一性原理建模结果相悖。这些结果表明，在单一材料内实现原子级SEEBIC衬度是可能的，并且需要更深入理解原子尺度SE发射以解释所观察到的衬度。反过来，这表明有关层间键合及其对电子轨道影响的细微信息可以通过该技术直接揭示。
引用
@article{arxiv.2212.00454,
title = {Direct Imaging of Electron Orbitals with a Scanning Transmission Electron Microscope},
author = {Ondrej Dyck and Jawaher Almutlaq and Jacob L. Swett and Andrew R. Lupini and Dirk Englund and Stephen Jesse},
journal= {arXiv preprint arXiv:2212.00454},
year = {2023}
}