利用 30 keV 电子对二维材料中原子势的实时成像
材料科学
2021-08-11 v1
摘要
扫描透射电子显微镜（STEM）是二维（2D）材料原子尺度表征最广泛采用的工具。尽管将束流能量从 200 keV 降低到 80 或 60 keV 已是标准化做法，许多二维材料仍易受电子束损伤。虽然利用积分微分相位衬度（iDPC）STEM 或电子叠层成像对所有存在的元素都可通过原子静电势成像来探测，但以原子分辨率和增强的灵敏度捕获动力学过程一直是一项挑战。在此，我们通过使用 iDPC-STEM，以仅 30 keV 的束流能量对二维 WS 中的缺陷动力学进行原子静电势成像捕获。高帧率原子静电势的直接成像揭示了 WS 中缺陷和边缘附近单个原子的存在与运动，这些在常规环形暗场 STEM 下不可见，或无法被电子叠层成像足够快地捕获。
引用
@article{arxiv.2102.12159,
title = {Real-time imaging of atomic potentials in 2D materials with 30 keV electrons},
author = {Sytze de Graaf and Majid Ahmadi and Ivan Lazić and Eric G. T. Bosch and Bart J. Kooi},
journal= {arXiv preprint arXiv:2102.12159},
year = {2021}
}