含经典磁杂质的 Anderson 金属-绝缘体转变

我们通过数值方法研究了经典磁杂质对 Anderson 金属-绝缘体转变的影响。我们发现，少量 Heisenberg 杂质浓度会随着交换耦合强度 $J$ 的增加而提高临界无序幅度 $W_{\rm c}$。由此得到的关于 $J$ 的标度行为支持 Wegner 基于时间反演与自旋转动对称性联合破缺所预言的反常标度。此外，我们发现磁杂质的存在降低了临界关联长度指数 $\nu$，并增强了多重分形参数 $\alpha_0$。新的 $\nu$ 值与掺杂半导体（如磷掺杂硅）中金属-绝缘体转变（MIT）的实验测量值更为吻合，而已知在这些材料的 MIT 附近存在有限密度的磁矩。这些结果是通过对局域态密度的几何平均进行有限尺寸标度分析得到的，其中局域态密度采用核多项式方法计算。我们确立了这种数值技术组合作为定量获取无序系统临界性质的一种方法。