特征 p>0 下的 l-进微局部分析：一个完全离散赋值环的情形
代数几何
2010-05-18 v3 数论
摘要
对于特征 p>0 的完全离散赋值环上的 l-进平展层，我们发展了特征簇的概念。我们受 Kashiwara 与 Schapira 的微局部分析启发的方法，是对我们关于具有一般剩余域的局部域的分歧理论的补充。我们阐述了特征簇应满足的主要性质（同源猜想），并在离散赋值环上无条件地对秩一层、或在其剩余域完备时对层无条件地证明了它。
引用
@article{arxiv.math/0602285,
title = {Analyse micro-locale l-adique en caracteristique p>0: Le cas d'un trait},
author = {Ahmed Abbes and Takeshi Saito},
journal= {arXiv preprint arXiv:math/0602285},
year = {2010}
}
备注
36 pages, LaTeX; Modified contents mostly in Premiere partie, 36 pages, Latex; Minor change, adding a little more detail etc