利用 XPS 和拉曼光谱对少层纳米石墨结构进行缺陷估计的比较研究
材料科学
2016-08-29 v1
摘要
本文利用拉曼光谱和 X 射线光电子能谱，研究了通过等离子体增强化学气相沉积（PECVD）合成的平面和垂直取向纳米石墨结构（NGSs）中的缺陷。拉曼光谱揭示了垂直和平面 NGSs 中分别以空位型和边界型缺陷为主，而 XPS 则在 C 1s 谱中提供了源自六角晶格中非共轭碳原子的空位相关缺陷峰的额外信息。尽管这两种技术之间存在极好的相关性，但我们的结果表明，XPS 对表面缺陷的估计比拉曼分析更准确。本文在评估纳米石墨结构缺陷的背景下讨论了这些技术的细微差别。
引用
@article{arxiv.1607.04482,
title = {A comparative study on defect estimation using XPS and Raman spectroscopy in few layer nanographitic structures},
author = {K. Ganesan and Subrata Ghosh and Nanda Gopala Krishna and S. Ilango and M. Kamruddin and A. K. Tyagi},
journal= {arXiv preprint arXiv:1607.04482},
year = {2016}
}
备注
21 pages, 5 figures, 2 tables