1/f噪声作为探测石墨烯能带结构的探针
介观与纳米尺度物理
2010-10-01 v2
摘要
单层石墨烯的一个显著特征是线性色散能带，而在多层石墨烯的情况下，这些能带变为抛物线形。除了量子霍尔效应外，这种区别在电子输运中很难捕捉到。石墨烯的载流子迁移率已被仔细研究，但许多平行的散射机制常常掩盖了其对能带结构的敏感性。石墨烯中的闪烁噪声明确依赖于其屏蔽局部电势涨落的能力。在这里，我们表明闪烁噪声是石墨烯能带结构的灵敏探针，对于线性和抛物线能带，其随载流子密度的变化方式不同。使用不同类型的器件，我们发现这种差异在存在或不存在衬底的情况下对无序是稳健的。我们的结果揭示了石墨烯场效应晶体管(GraFET)中噪声的微观机制，并概述了一种简单的便携式方法来区分单层和多层器件。
引用
@article{arxiv.1009.5832,
title = {1/f noise as a probe for investigating band structure in graphene},
author = {Atindra Nath Pal and Subhamoy Ghatak and Vidya Kochat and Sneha E. S. and Arjun B. S. and Srinivasan Raghavan and Arindam Ghosh},
journal= {arXiv preprint arXiv:1009.5832},
year = {2010}
}
备注
5 pages, 4 figures