石墨烯分子电荷转移掺杂的XPS证据
材料科学
2015-06-04 v1
摘要
通过使用X射线光电子能谱（XPS），我们能够确定在覆盖有电子受体（TCNE）和供体（TTF）分子的少层石墨烯中发生了电荷转移掺杂。我们对这些复合物中的电荷转移程度进行了定量估计，阐明了其拉曼G带异常位移的起源，并解释了电导率对n型和p型掺杂依赖性的差异。该研究揭示了电荷转移掺杂与电化学掺杂之间明显差异的原因。
引用
@article{arxiv.1202.4323,
title = {XPS evidence for molecular charge-transfer doping of graphene},
author = {D. Choudhury and B. Das and D. D. Sarma and C. N. R. Rao},
journal= {arXiv preprint arXiv:1202.4323},
year = {2015}
}
备注
15 pages, 5 figures