MgB₂的X射线光电子能谱研究
超导电性
2009-11-07 v2
摘要
对MgB₂的c轴取向薄膜和高密度烧结颗粒进行X射线光电子能谱(XPS)研究，并与MgO和MgF₂单晶的测量结果进行比较。生长表面存在一层Mg富集且氧化的层面，可通过非水酸蚀刻有效去除。颗粒的亚表面区域为Mg不足的区域。这一非理想的近表面区域可能解释了扫描隧道扫描显微镜结果的差异。MgB₂的核心能级和Auger信号与金属Mg和过渡金属二硼化物的测量结果相似，测得的价带与计算的态密度相符。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0103215,
title = {X-ray Photoemission Study of MgB2},
author = {R. P. Vasquez and C. U. Jung and Min-Seok Park and Heon-Jung Kim and J. Y. Kim and Sung-Ik Lee},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0103215},
year = {2009}
}
备注
19 pages, 6 figures; Submitted to Phys. Rev. B; added references and new data on films