高致密MgB2超导体的透射电子显微镜微结构研究
超导电性
2009-09-25 v2
摘要
利用高分辨透射电子显微镜(HRTEM)研究了在约3 GPa高压、高温下烧结的MgB2超导体的微结构。TEM图像显示样品中没有任何孔隙。所有晶粒紧密连接，在所研究的区域内，晶界处没有可辨别的空隙或杂质。HRTEM图像清晰地显示了构成基底六角平面的每个组成原子，在单个晶粒内没有任何缺陷。通过这种直接测量得到的a轴晶格参数为0.307 nm，比通过扩散技术制备的样品得到的值0.314 nm要短。还观察到一种次要杂质相，很可能是MgB4，它没有形成界面层，但与主MgB2相很好地隔离。我们的结果证实，MgB2粉末在高温高压下烧结达到了其理论密度，没有任何孔隙或晶粒长大。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0102498,
title = {Microstructure of the highly dense MgB2 Superconductor by transmission electron microscope},
author = {Gun Yong Sung and Sang Hyeob Kim and JunHo Kim and Dong Chul Yoo and Ju Wook Lee and Jeong Yong Lee and C. U. Jung and Min-Seok Park and W. N. Kang and Du Zhonglian and Sung-Ik Lee},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0102498},
year = {2009}
}
备注
5 figures, Submitted to Applied Physics Letter