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图嵌入局部拓扑结构的变化

组合数学 2015-03-06 v1

摘要

图在闭曲面上的22-胞腔嵌入已被广泛研究。众所周知,给定图GG在可定向闭曲面上的(22-胞腔)嵌入等价于循环排序与GG每个顶点关联的边。本文研究以下问题:给定图GG的亏格gg嵌入E\mathbb{E},若我们随机重排一个顶点周围的边,即重新嵌入,所得嵌入E\mathbb{E}'具有亏格g+Δgg+\Delta g的概率为何?我们给出计算该概率的公式。同时,也得到其他一些已知与未知结果。例如,我们证明在单面嵌入中,对任意度数为deg(v)deg(v)的顶点vv重新嵌入,保持亏格的概率至少为2deg(v)+2\frac{2}{deg(v)+2};并且我们得到了图GG的给定嵌入为最小亏格嵌入的必要条件。

关键词

引用

@article{arxiv.1503.01499,
  title  = {Variation of the local topological structure of graph embeddings},
  author = {Ricky X. F. Chen and Christian M. Reidys},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1503.01499},
  year   = {2015}
}

备注

22-page draft. Comments are highly appreciated