利用弱测量提取拓扑绝缘体的 $Z_2$ 指数
介观与纳米尺度物理
2015-06-17 v2
摘要
近年来,人们对将弱值和弱测量的概念应用于凝聚态系统产生了兴趣。在此提出了一种用于获取拓扑绝缘体 指数的弱测量方案。该方案由一个拓扑绝缘体构成,其中有一个孔洞被含时的阿哈罗诺夫-玻姆通量穿透。与孔洞中时间积分磁化强度相关的某个弱值()对环境小磁场()具有普适响应,即 。该结果不受无序、相互作用以及在很大程度上不受通量穿透速度的影响。它主要取决于防止通量泄漏出孔洞,以及能够以几个自旋的分辨率探测磁化强度。类似的结果也可仅利用电荷测量获得,在由一个双量子点弱耦合到 LC 回路构成的方案中。此处可得到 ,其中 是与电感上通量相关的弱值, 是平均电容充电。这些结果的普适性表明它们可作为凝聚态物理中弱值的测试平台。
引用
@article{arxiv.1503.08208,
title = {Using weak measurements to extract the $Z_2$ index of a topological insulator},
author = {Zohar Ringel},
journal= {arXiv preprint arXiv:1503.08208},
year = {2015}
}