用于高分辨率成像的双光子干涉测量

我们讨论使用非经典光态在光学成像的两个方面的优势：在光敏基底上创建微型图像（构成光学光刻的基础），以及微物体成像。在这两种情况下，由瑞利判据给出的经典分辨率极限约为光学波长的一半。然而，已经表明，通过使用光场的多光子量子态和多光子敏感材料或探测器，可以超越这一极限。我们对此问题给出严格的量子力学处理，解决一些特别普遍的误解，并讨论将量子成像研究转化为实用技术的要求。