有向渗流相变附近量子轨迹的平庸性

我们研究由酉门、投影测量以及将系统导向纯吸收态的控制操作构成的量子电路。随着此类控制操作速率的增加，会发生两类相变：测量诱导的纠缠相变，以及进入吸收态（此处取为乘积态）的有向渗流相变。本工作中我们解析地表明这些相变通常是不同的，量子轨迹在达到吸收态相变之前便已解纠缠，并分析了其临界性质。我们引入一类简单模型，其中每个量子轨迹中的测量定义了一个有效张量网络（ETN）——即发生非平凡时间演化的初始时空图的子图。通过分析 ETN 的纠缠性质，我们表明纠缠与吸收态相变仅在无穷局域希尔伯特空间维度极限下重合。聚焦于允许大系统尺寸数值模拟的 Clifford 模型，我们验证了预测并研究了大局域希尔伯特空间维度下两相变间的有限尺寸交叉。我们给出证据，表明纠缠相变由无反馈混合电路中相同的不动点所支配。