IllustrisTNG 模拟中暗物质晕的三点内禀对齐

我们利用 IllustrisTNG 宇宙学模拟套件测量了红移 0 到 1 之间暗物质子晕的内禀对齐(IA)双谱。我们将内禀剪切场分解为 E 模式和 B 模式，发现物质过密度场 $\delta$ 与 E 模式场之间的双谱 $B_{\delta\delta\mathrm{E}}$ 和 $B_{\delta\mathrm{EE}}$ 被高显著性地探测到。我们还使用与两点非线性对齐模型一致的方法对 IA 双谱进行解析建模。我们利用该模型和模拟测量结果推断内禀对齐幅度 $A_\mathrm{IA}$，发现在尺度直至 $k_\mathrm{max}= 2 \, h \mathrm{Mpc}^{-1}$ 时，由 IA 功率谱和双谱得到的 $A_\mathrm{IA}$ 值吻合良好，例如在 $z=1$ 时，由物质过密度与 E 模式场之间的交叉功率谱得到 $A_\mathrm{IA} = 2.13 \pm$ 0.02，由 $B_{\delta\delta \mathrm{E}}$ 得到 $A_\mathrm{IA} =2.11 \pm$ 0.03。这表明一个具有物理动机的单一模型可以联合建模内禀对齐的两点和三点统计量，从而实现内禀对齐与宇宙学弱引力透镜信号之间更清晰的分离。