二次偏置对宇宙剪切的影响

本文中我们重访由乘性偏置项（其幂次最高为剪切的二次）引起的宇宙剪切功率谱中的潜在偏置。将乘性偏置场展开为独立自旋-$s$场的级数，我们发现有乘以剪切整数与半整数次幂的项$m_s$。我们将这些偏置传播至形状测量统计与宇宙剪切功率谱中。我们发现此类偏置可通过在校准数据上执行回归来测量。我们发现，对于剪切的整数次幂，二次阶项对功率谱的影响是一种额外的双谱依赖性；忽略二次项可导致宇宙学参数的偏置在Stage-IV暗能量实验中高达$2(m_2+m_{-2}-m_6)0.4\sigma$，但其敏感性可通过使用去除小尺度敏感性的方法降低。我们还发现，对于剪切的半整数次幂，在Stage-IV实验中，偏置需被知晓至优于约$\sigma[m_0+15(m_1+m_3)+0.1(m_{-1}+m_5)]\leq 0.01$。未来，Stage-IV暗能量实验应寻求测量并最小化所有此类偏置项。