带和不带引导网格的 Orbotech 像素化 CZT 检测器性能测试
天体物理学
2009-11-11 v1
摘要
我们报告对厚度为0.5 cm 的像素化 Orbotech CZT 检测器进行优化，关注最佳接触材料及引导网格的使用。我们评估了不同接触材料的性能。本研究与早前工作的区别在于我们分别研究不同阴极和阳极材料的性能。我们采用 Au 阴极获得最佳性能。对于不同阴极材料，Ti 和 In 给出最佳能量分辨率。该检测器 (2.0 x 2.0 x 0.5 cm, 8 x 8 pixels) 显示在 59 keV, 122 keV 和 662 keV 能量分辨率分别为 1.4 keV, 1.9 keV 和 7.4 keV。此外，我们报告使用引导网格来提高像素化检测器的性能。此前，引导网格的效益因与阴极像素之间额外电子噪声而受限。我们正在通过在 CZT 基片与 AlO 薄层中进行隔离来探索将引导网格与 CZT 隔离的可能性。我们进行一系列测量，确定隔离层如何减少网格-像素电流。将两个 Au 接触器之间的电流在用 700 nm 厚 Al2O3 隔离一个接触器前后进行比较，我们测得隔离层在 500 V 时将电流约减弱一个数量级。我们展示了在沉积隔离式引导网格前后某检测器的部分结果。该网格确实改善了检测器的能量分辨率和探测效率。我们表明，可使用仿真来对阳极与阴极间的电荷相关性进行建模，结果与实验数据高度一致。
引用
@article{arxiv.astro-ph/0608673,
title = {Test of Thick Pixelated Orbotech Detectors with and without Steering Grids},
author = {I. Jung and A. Garson and H. Krawczynski and A. Burger and M. Groza and J. Matteson and R. T. Skelton},
journal= {arXiv preprint arXiv:astro-ph/0608673},
year = {2009}
}
备注
8 pages, to appear in the proceedings of the conference 6319A, "Hard X-Ray and Gamma-Ray Detector Physics VIII" on the "Optics & Photonics 2006" SPIE Symposium, August 15-17, 2006, San Diego, CA