不同像素间距与厚度像素化CZT探测器的制造与测试
天体物理学
2008-11-20 v1
摘要
生长具有高产率和优异均匀性的碲锌镉（Cadmium Zinc Telluride, CZT）晶体的主要方法分别是改进的水平布里奇曼法（Modified Horizontal Bridgman, MHB）和高压布里奇曼法（High Pressure Bridgman, HPB）工艺。在本文中，开发并测试了基于两个32通道 NCI-ASIC 的像素化 CZT 探测器阵列读出系统。由 Orbotech (MHB) 和 eV products (HPB) 提供的 CZT 探测器通过 NCI-ASIC 读出系统进行了测试。CZT 探测器的阳极表面制作有 8x8 或 11x11 像素阳极阵列，面积最大可达 2 cm x 2 cm，CZT 探测器的厚度范围为 0.5 cm 至 1 cm。研究了不同厚度的 8x8 像素 CZT 探测器的能谱分辨率和电子迁移率-寿命乘积。
引用
@article{arxiv.0811.3201,
title = {Fabrication and Test of Pixelated CZT Detectors with Different Pixel Pitches and Thicknesses},
author = {Q. Li and A. Garson and P. Dowkontt and J. Martin and M. Beilicke and I. Jung and M. Groza and A. Burger and G. De Geronimo and H. Krawczynski and . and . and . and .},
journal= {arXiv preprint arXiv:0811.3201},
year = {2008}
}
备注
6 pages, 17 figures, 2008 IEEE NSS/MIC conference, Dresden