原型像素化 PIN CdZnTe 检测器的开发
天体物理学
2015-06-24 v1
摘要
我们报告了两个像素化 PIN 铀镉硒（CdZnTe）检测器及其基于低噪声模拟器阵列（ASIC）的读出系统的初始结果。原型像素化 PIN 检测器由4×4个1.5 mm 边长的� indium 阳极电极组成，间距为0.2 mm，固态阴极平面覆盖在厚度为2 mm 和5 mm 的10×10 mm CdZnTe 衬底上。基于低噪声前置放大器 ASIC 的检测器读出系统，允许在阴极触发时对所有通道进行并行读出。该原型正在开发中，用于未来的天体学硬 X 射线成像仪器，具有10-600 keV 能量响应。将讨论检测器的均匀性、空间分辨率和光谱分辨率的测量，并与类似的像素化 MSM 检测器进行比较。最后，概述了大型成像阵列的原型设计。
关键词
引用
@article{arxiv.astro-ph/9806179,
title = {Development of Prototype Pixellated PIN CdZnTe Detectors},
author = {T. Narita and P. Bloser and J. Grindlay and R. Sudharsanan and C. Reiche and C. Stenstrom},
journal= {arXiv preprint arXiv:astro-ph/9806179},
year = {2015}
}
备注
10 pages Latex, 9 figures, to appear in Proc. of SPIE Vol. 3446 "Hard X-ray and Gamma-Ray Detector Physics and Applications"