厚CZT探测器的漏电流与电容

Alfred Garson; Qiang Li; Ira V. Jung; Paul Dowkontt; Richard Bose; Garry Simburger; Henric Krawczynski

厚CZT探测器的漏电流与电容

天体物理仪器与方法 2009-04-01 v1

作者: Alfred Garson , Qiang Li , Ira V. Jung , Paul Dowkontt , Richard Bose , Garry Simburger , Henric Krawczynski

摘要

碲锌镉(CZT)探测器的质量正在稳步提高。对于最先进的探测器，读出噪声因此成为影响整体能量分辨率的一个日益重要的因素。本文中，我们介绍了厚度为0.5 cm、在2 cm x 2 cm表面上具有单片阴极和8x8阳极像素的CZT探测器的暗电流和电容的测量与计算结果。以布鲁克海文国家实验室的NCI ASIC为例，我们估算了由暗电流和电容引起的读出噪声。此外，我们讨论了由像素-像素和像素-阴极噪声耦合可能引起的额外读出噪声。

关键词

CZT探测器漏电流电容读出噪声 ASIC 能量分辨率

引用

@article{arxiv.0903.5518,
  title  = {Leakage Currents and Capacitances of Thick CZT Detectors},
  author = {Alfred Garson and Qiang Li and Ira V. Jung and Paul Dowkontt and Richard Bose and Garry Simburger and Henric Krawczynski},
  journal= {arXiv preprint arXiv:0903.5518},
  year   = {2009}
}

备注

Proceedings of IEEE NSS-MIC October 2007 Hawaii

厚CZT探测器的漏电流与电容

摘要

关键词

引用

备注

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