面向未来任务的紫外线探测器技术进展：利用光子计数 EMCCD 研究硅探测器的暗电流平台现象
天体物理仪器与方法
2024-07-23 v1 仪器与探测器
摘要
了解高量子效率硅基紫外线探测器的噪声特性——Jet 洞穴实验室开发的这些设备——对于当前和提议的紫外线任务至关重要。本文提供了我们使用的 delta-doped 光子计数 Electron 增强 CCD（EMCCD）的探测器噪声表征测试台概述，以理解所有硅 CCD 和 CMOS 数组相关的基本噪声特性。这项工作旨在识别先前使用光子计数 EMCCD 测量的暗电流 plateau 的来源，已知该现象在其他硅基数组中也很常见。有人怀疑 plateau 可能源于仪器环境黑体辐射尾部的可探测光子、低水平光泄漏，以及随基片电压变化但不随温度变化的非温度依赖性成分。我们创新的测试装置独立控制探测器及其周围环境的温度，从而细分环境对暗测量影响。我们present 了测试装置的设计和初步结果。
引用
@article{arxiv.2407.15392,
title = {Advancing Ultraviolet Detector Technology for future missions: Investigating the dark current plateau in silicon detectors using photon-counting EMCCDs},
author = {Aafaque R. Khan and Erika Hamden and Gillian Kyne and April D. Jewell and John Henessey and Shouleh Nikzad and Vincent Picouet and Olivia Jones and Harrison Bradley and Nazende Kerkeser and Zeren Lin and Brock Parker and Grant West and John Ford and Frank Gacon and Dave Beaty and Jacob Vider},
journal= {arXiv preprint arXiv:2407.15392},
year = {2024}
}
备注
Submitted for Proceedings of SPIE Astronomical Telescopes+Instrumentation 2024, Paper number: 13093-26