RuO$_2$ 纳米线中由可移动缺陷引起的时间普适电导涨落
介观与纳米尺度物理
2011-10-18 v1
摘要
在低温下，RuO 纳米线中观测到了时间普适电导涨落 (TUCF)。这些涨落持续存在直至非常高的温度 K。其均方根幅度随 降低而增加，在 K 时达到 。研究表明，这些涨落源于传导电子与人造金属氧化物纳米线中大量可移动缺陷的散射。我们识别并基于现有理论解释了一维饱和与非饱和区域中的 TUCF 特征。此外，还讨论了将 TUCF 作为可移动缺陷（二能级系统）特征时间尺度的探针。
引用
@article{arxiv.1109.5848,
title = {Temporal universal conductance fluctuations in RuO$_2$ nanowires due to mobile defects},
author = {An-Shao Lien and L. Y. Wang and C. S. Chu and Juhn-Jong Lin},
journal= {arXiv preprint arXiv:1109.5848},
year = {2011}
}
备注
5 pages, 3 figures