用表面科学方法探测强与弱三维拓扑绝缘体
材料科学
2021-02-03 v1 介观与纳米尺度物理
摘要
我们综述了表面科学方法对发现和改良三维拓扑绝缘体材料的贡献，并以我们自身工作中的实例加以说明。特别地，我们证明自旋极化角分辨光电子能谱对于证实自旋螺旋表面 Dirac 锥、将其 Dirac 点能量调谐至费米能级附近、以及发现新型拓扑绝缘体（如相变材料中的双重拓扑绝缘体或可切换拓扑绝缘体）具有重要作用。此外，我们介绍了利用扫描隧道谱空间映射电势涨落、以及识别弱拓扑绝缘体中拓扑边缘态的方法。
引用
@article{arxiv.2002.00378,
title = {Strong and Weak Three-Dimensional Topological Insulators Probed by Surface Science Methods},
author = {Markus Morgenstern and Christian Pauly and Jens Kellner and Marcus Liebmann and Marco Pratzer and Gustav Bihlmayer and Markus Eschbach and Lukacz Plucinski and Sebastian Otto and Bertold Rasche and Michael Ruck and Manuel Richter and Sven Just and Felix Luepke and Bert Voigtlaender},
journal= {arXiv preprint arXiv:2002.00378},
year = {2021}
}
备注
Review article, 37 pages, 8 figures