通过铁磁共振追踪拓扑表面态的狄拉克点
介观与纳米尺度物理
2024-03-08 v2
摘要
铁磁共振被用于揭示铁磁金属与拓扑绝缘体界面处埋藏电子能带结构的特征。通过监测磁阻尼的演化，将这种方法应用于由铁磁层和三维拓扑绝缘体组成的混合结构，揭示了狄拉克点的清晰指纹，并展示了 otherwise 无法观测到的界面能带结构的其他特征。我们在拓扑表面态（TSSs）耗散角动量的框架下讨论了潜在的自旋泵浦机制。通过改变拓扑绝缘体层的化学计量比和静电背栅调控，验证了 TSS 内费米能级的调谐，两种情况下获得的阻尼值显示出显著的一致性。该方法的高能量分辨率还使我们能够分辨由局部静电势变化产生的局部狄拉克点的能量位移。基于 TSS 中自然发生的手性隧穿过程的计算与实验结果吻合良好。
引用
@article{arxiv.2403.03518,
title = {Tracing Dirac points of topological surface states by ferromagnetic resonance},
author = {Laura Pietanesi and Magdalena Marganska and Thomas Mayer and Michael Barth and Lin Chen and Ji Zou and Adrian Weindl and Alexander Liebig and Rebeca Díaz-Pardo and Dhavala Suri and Florian Schmid and Franz J. Gießibl and Klaus Richter and Yaroslav Tserkovnyak and Matthias Kronseder and Christian H. Back},
journal= {arXiv preprint arXiv:2403.03518},
year = {2024}
}
备注
10 pages, 4 figures, supplemental material