基于电子束感应电流的电阻开关TiO2状态表征
材料科学
2021-06-09 v2
摘要
金属氧化物电阻开关作为下一代神经形态网络中可能的人工突触正变得越来越重要。然而，仍然没有一套规范的研究器件特性的工具。为此，我们展示了电子束感应电流（electron beam induced current）测量作为一种强有力的方法，用于监测基于TiO2的器件中局部电阻开关的发展。通过将依赖于束能量的电子束感应电流与不同器件层中能量吸收的蒙特卡洛模拟进行比较，可以解构细丝图像形成的起源，并将其与形态变化以及开关状态联系起来。通过阐明电子束感应电流显微镜中的衬度机制，可以深入了解电阻开关现象的缩放规律，并观察到开关细丝周围泄漏电流区域的形成。此外，对对称器件结构的分析揭示了传播的极化畴。
引用
@article{arxiv.1704.01475,
title = {Stateful characterization of resistive switching TiO2 with electron beam induced currents},
author = {Brian D. Hoskins and Gina C. Adam and Evgheni Strelcov and Nikolai Zhitenev and Andrei Kolmakov and Dmitri B. Strukov and Jabez J. McClelland},
journal= {arXiv preprint arXiv:1704.01475},
year = {2021}
}
备注
27 Pages 10 figures