厚靶痕量元素分析中质子诱导X射线发射的标准化
仪器与探测器
2020-03-10 v2 材料科学
摘要
本文提出了质子诱导X射线发射(PIXE)技术用于厚标准样品痕量元素分析的标准化。由于可得性，使用了三种标准参考物质(SRMs)，即钛、铜和铁基合金进行研究。质子束由5UDH-II串列Pelletron加速器加速至2.57 MeV能量，样品在不同几何条件和时长下辐照。使用多通道能谱分析仪获取能谱，而能谱分析使用GUPIXWIN模型进行以确定痕量元素的元素浓度。将获得的实验数据与理论数据进行比较，结果吻合良好。
引用
@article{arxiv.1703.04532,
title = {Standardization of Proton Induced X-Ray Emission for Analysis of Trace Elements in Thick Targets},
author = {Johar Zeb and Shad Ali and Muhammad Haneef and Azhar Muhammad Naeem and Jehan Akbar},
journal= {arXiv preprint arXiv:1703.04532},
year = {2020}
}
备注
6 Pages