通过积分X射线发射的多波长测量验证连续谱压低模型
等离子体物理
2020-01-22 v1
摘要
X射线发射光谱学是一种成熟的技术，用于研究稠密等离子体中的连续谱压低。它依赖于精确的原子物理模型以稳健地复现高分辨率发射光谱，并取决于我们识别光谱特征（如等离子体内各电荷态的发射线或电离边）的能力。本文描述一种摒弃这些要求的方法，使得仅基于窄带宽X射线脉冲驱动、在一系列波长下等离子体发射的总强度，即可验证不同的连续谱压低模型。该方法在已发表的Al光谱数据上进行了测试，并应用于固态密度部分电离Fe等离子体的新案例，其中由于广泛电荷态发射的显著重叠，直接提取电离边是不可行的。
引用
@article{arxiv.1802.01234,
title = {Validating Continuum Lowering Models via Multi-Wavelength Measurements of Integrated X-ray Emission},
author = {M. F. Kasim and J. S. Wark and S. M. Vinko},
journal= {arXiv preprint arXiv:1802.01234},
year = {2020}
}