利用 PIXE 和 RBS 分析微晶包裹体
地球物理
2008-12-18 v1
摘要
使用 3 MeV 质子束的核微探针的一个特征特征是粒子具有长射程（在轻基质中约 70 μm）。PIXE 方法结合 EDS 分析，并利用多层方法处理 X 射线光谱，可以在已知包裹体顶板厚度（Z）和束流撞击点的包裹体厚度（e）的情况下（包裹体底板深度为 Z + e），测量晶内包裹体的化学组成。矿物中包裹体的参数 Z 可以使用精度约 1 μm 的显微镜测量。然而，如果分析的包裹体形状复杂，该值可能与 Z 显著偏离。参数 e 难以通过光学手段测量。通过结合 RBS 和 PIXE 测量，可以获得定量元素分析所需的几何信息。本文将展示对合成样品的测量以研究该技术的优势，以及对石英中天然固体和流体包裹体的测量。将讨论几何参数对 PIXE 浓度测定的影响。特别将展示耦合 PIXE-RBS 对独居石微包裹体定年的精度。
引用
@article{arxiv.0806.1605,
title = {Micro-crystalline inclusions analysis by PIXE and RBS},
author = {David Strivay and Claire Ramboz and J. P. Gallien and D. Grambole and Kalin Kouzmanov},
journal= {arXiv preprint arXiv:0806.1605},
year = {2008}
}