MeV能量重离子PIXE中靶厚度效应的修正程序
原子物理
2017-11-10 v1
摘要
我们描述了一种新的计算修正因子的程序，用于考虑靶厚度效应，以应用于MeV能量重离子诱导的X射线发射截面的测定。我们讨论了该修正的起源，并描述了基于理论截面和离子能量损失的简单多项式拟合的计算。该程序易于实现。我们展示了专门为截面测量制作的一组靶以及离子类型和能量的各种组合的几个示例。
引用
@article{arxiv.1705.06080,
title = {A procedure to correct for target thickness effects in heavy-ion PIXE at MeV energies},
author = {A. Zucchiatti and P. Galan and J. E. Prieto},
journal= {arXiv preprint arXiv:1705.06080},
year = {2017}
}
备注
11 pages, 2 Tables, 4 Figures. Submitted to NIM B