缓解带电粒子轰击对奇异原子 X 射线实验中 TES 阵列的影响
仪器与探测器
2020-07-15 v2
摘要
奇异原子实验将过渡边传感器（TES）微热量计阵列置于富含高能带电粒子的环境中。当高能带电粒子穿过 TES 阵列的硅衬底时，会沉积大量能量，并由于热串扰在 TES 阵列的多个像素中产生小脉冲。我们已开发分析技术来评估并降低带电粒子事件对奇异原子 X 射线测量的影响。利用该技术，由于堆积效应产生的 X 射线峰的高能与低能成分被消除，在 6.9 keV 处能量分辨率从 6.6 eV 提升至 5.7 eV。
引用
@article{arxiv.1907.06262,
title = {Mitigating the effects of charged particle strikes on TES arrays for exotic atom X-ray experiments},
author = {H. Tatsuno and D. A. Bennett and W. B. Doriese and M. Durkin and J. W. Fowler and J. D. Gard and T. Hashimoto and R. Hayakawa and T. Hayashi and G. C. Hilton and Y. Ichinohe and H. Noda and G. C. O'Neil and S. Okada and C. D. Reintsema and D. R. Schmidt and D. S. Swetz and J. N. Ullom and S. Yamada},
journal= {arXiv preprint arXiv:1907.06262},
year = {2020}
}
备注
Proceedings of the LTD18 conference, accepted