还原氧化石墨烯片中具有指数陷阱分布的空间电荷限制导电
介观与纳米尺度物理
2015-05-19 v1
摘要
我们通过测量和分析温度相关的电流-电压特性，阐明了化学还原氧化石墨烯（RGO）片的低迁移率和电荷陷阱。RGO片通过介电泳组装在源极和漏极之间。在低偏压下，导电是欧姆性的，而在高偏压和低温下，导电变为具有指数陷阱分布的空间电荷限制导电。我们估计平均陷阱密度为1.75×10^16 cm^-3。关于电荷陷阱的定量信息将有助于制定钝化缺陷的优化策略，以制造高质量溶液处理的石墨烯器件。
引用
@article{arxiv.1006.4430,
title = {Space charge limited conduction with exponential trap distribution in reduced graphene oxide sheets},
author = {Daeha Joung and A. Chunder and Lei Zhai and Saiful I. Khondaker},
journal= {arXiv preprint arXiv:1006.4430},
year = {2015}
}
备注
6 pages, 3 figures, 1 table